植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中準確和省力、省時、快捷方便的方法。

可測量指標

葉片平均傾角

葉面積指數(shù)

葉面積密度的方位分布

儀器主要技術參數(shù)

分辨率：768×494pix

工作溫度：0～55℃

電 　 源：8.4v可充電鋰電池組

探頭尺寸：直徑6cm，高10cm
總 重 量：500克(不含筆記本電腦)

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